SURFACES ANALYSE DES
BINNIG GERD KARL (1947- )
Né le 20 juillet 1947 à Francfort-sur-le-Main (Allemagne),Gerd Karl Binnig y fit ses études à l'université Goethe et obtint son doctorat en 1978. Immédiatement engagé par le laboratoire de recherche I.B.M. de Roschliken, près de Zurich, il travailla avec Heinrich Rohrer à la mise au point d'un nouveau type de microscope électronique. La microscopie à effet tunnel, inventée en 1981 par Binnig et Ro […] […] Lire la suite
CASSINI-HUYGENS (MISSION)
Dans le chapitre « Titan » : […] Titan est un paradis organique qui devrait pouvoir nous éclairer sur l'évolution chimique menant à la vie. Sous l’influence du flux solaire et des particules cosmiques, les principaux constituants atmosphériques – le diazote et le méthane – évoluent chimiquement et produisent des composés organiques complexes (essentiellement des hydrocarbures comme l’éthane, l’acétylène et le propane, ou des nit […] […] Lire la suite
E.S.R.F. (European Synchrotron Radiation Facility)
Dans le chapitre « Science des surfaces » : […] L'énergie des rayons X de l'E.S.R.F. est suffisante pour pénétrer le cortège électronique des atomes jusqu'au plus près du noyau. Cette propriété est intéressante pour la physique atomique ainsi que pour l'étude des surfaces ou des interfaces. Il est connu que les atomes de surface ont, d'une part, des propriétés électroniques différentes de celles de l'atome libre et que, d'autre part, ces propri […] […] Lire la suite
LANGMUIR IRVING (1881-1957)
Chimiste et physicien américain né à Brooklyn (New York) et mort à Falmouth (Massachusetts). Après des études de métallurgie à l'université Columbia, Irving Langmuir prépare sa thèse sous la direction de Walther Nernst à Göttingen. Rentré aux États-Unis, il y dirige des recherches pour le compte de la General Electric (Schenectady, N.Y.) de 1909 à 1950. Ses travaux sur les films moléculaires à la […] […] Lire la suite
MICROSCOPIE
Dans le chapitre « Le microscope à force atomique et la microscopie de force » : […] Le premier microscope dérivé du microscope à effet tunnel est le microscope à force atomique (1985). Celui-ci utilise l'effet de proximité de la pointe et de l'échantillon et non le contrôle du courant tunnel. Ce type de microscopie peut donc permettre l'analyse de tous les matériaux, même ceux qui ne sont pas conducteurs. C'est par une pointe installée à l'extrémité d'un levier très sensible qu […] […] Lire la suite
ROHRER HEINRICH (1933-2013)
Né le 6 juin 1933 à Buchs (Suisse), Heinrich Rohrer fit ses études à l'Institut fédéral de technologie de Zurich et y obtint son doctorat en 1960. Après deux années de recherche à l'université Rutgers (New Jersey), il fut engagé par le laboratoire de recherche I.B.M. de Roschliken, près de Zurich. À partir de 1978, il développa avec Gerd Binnig un nouveau type de microscope électronique. La micros […] […] Lire la suite
SPECTROMÉTRIE DE MASSE
Dans le chapitre « Sciences de la Terre » : […] Il s'agit d'un vaste domaine où la spectrométrie de masse est employée pour la mesure des abondances élémentaires et des rapports d'abondances isotopiques : géologie, océanographie, glaciologie, volcanologie, physique de l'atmosphère, étude des météorites, planétologie, etc. Pour mesurer l'abondance d'un élément, on utilise la dilution isotopique, méthode fondée sur la mesure des rapports d'abond […] […] Lire la suite
SURFACE PHÉNOMÈNES DE
Dans le chapitre « Interaction avec les atomes » : […] Lorsqu'un atome de gaz rare (ou une molécule neutre) s'approche de la surface d'un solide, il subit une attraction qui résulte des forces de dispersion, ou forces de Van der Waals. Pour un solide semi-infini comportant une surface plane, l'interaction atome-surface à la distance z de la surface s'écrit (pour une distance z supérieure au diamètre de l'atome) : L'atome peut être adsorbé sur la sur […] […] Lire la suite
Configurations atomiques et densités électroniques associées à la surface d'un échantillon de silicium face (111) fortement dopé au bore. En a, vue de dessus en microscopie par effet tunnel. La maille hexagonale des atomes de silicium en surface a 0,65 nm de côté. Les points...
Crédits : Encyclopædia Universalis France
Nanotechnologies : visualisation à l'échelle atomique
Topographie d'une surface de silicium obtenue grâce au microscope à force atomique. Cet outil de visualisation à l'échelle de l'atome (l'image est obtenue en balayant la surface à étudier d'une pointe et en mesurant la distance pointe-surface) a permis de mieux comprendre...
Crédits : Naval Research Laboratory
Configurations atomiques et densités électroniques associées à la surface d'un échantillon de silicium face (111) fortement dopé au bore
Crédits : Encyclopædia Universalis France
dessin
Nanotechnologies : visualisation à l'échelle atomique
Crédits : Naval Research Laboratory
photographie