Ce sujet est traité dans les articles suivants :
Écrit par : Christian COLLIEX, Jean DAVOUST, Étienne DELAIN, Pierre FLEURY, Georges NOMARSKI, Frank SALVAN, Jean-Paul THIÉRY
Dans le chapitre "Le microscope à force atomique et la microscopie de force" : … locales d'une propriété ou d'un paramètre physique à la surface d'un échantillon. Ainsi, le* microscope à force magnétique permet d'étudier et d'imager des propriétés magnétiques d'un échantillon en utilisant une pointe-sonde magnétique (cobalt ou nickel). Il a été développé pour analyser finement des matériaux magnétiques tels que les… Lire la suite
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