MICROSCOPIE À FORCE ATOMIQUE

Ce sujet est traité dans les articles suivants :

1.  MICROSCOPIE

Écrit par : Christian COLLIEX, Jean DAVOUST, Étienne DELAIN, Pierre FLEURY, Georges NOMARSKI, Frank SALVAN, Jean-Paul THIÉRY

Dans le chapitre "Le microscope à force atomique et la microscopie de force"  : … Le premier microscope dérivé du microscope à effet tunnel est le* microscope à force atomique (1985). Celui-ci utilise l'effet de proximité de la pointe et de l'échantillon et non le contrôle du courant tunnel. Ce type de microscopie peut donc permettre l'analyse de tous les matériaux, même ceux qui ne sont pas conducteurs. C'est par une pointe… Lire la suite